Klíčové slovo:
Všechna slova Libovolná slova Přesná fráze
Řazení:

Klíčové slovo correlate
Celkem nalezeno výsledků : 1.

1. Metrologie v procesech tváření plechových výlisků (Matching tags: MCAE,3D skenování,Metrologie,GOM,ATOS,PONTOS,Correlate,ScanBox,INSPECT) Seminář o 3D metrologii spjaté s tvářením plechových výlisků uspořádala firma MCAE Systems na přelomu února a března 2017 hned ve dvou lokalitách – v Ostravě a Kuřimi. Akce byla součástí řady mezinárodních ... Středa, 22 Březen 2017