Klíčové slovo:
Všechna slova Libovolná slova Přesná fráze
Řazení:

1. Metrologie v procesech tváření plechových výlisků (Matching tags: PONTOS,Correlate,ScanBox,INSPECT,MCAE,3D skenování,Metrologie,GOM,ATOS) Seminář o 3D metrologii spjaté s tvářením plechových výlisků uspořádala firma MCAE Systems na přelomu února a března 2017 hned ve dvou lokalitách – v Ostravě a Kuřimi. Akce byla součástí řady mezinárodních ... Středa, 22 Březen 2017 2. Nové milníky v optické 3D metrologii (Matching tags: ScanBox,PONTOS,TRITOP,Průmysl 4.0,CAD/CAM,GOM,ATOS,EMO,3D skenování) Hned tři tiskové zprávy vydala německá společnost GOM z Braunschwiegu, zřejmě také v souvislosti se svou účastí na veletrhu EMO Hannover (hala 6, stánek B86). Výrobky této společnosti ... Čtvrtek, 17 Srpen 2017

Klíčové slovo PONTOS
Celkem nalezeno výsledků : 2.