Partneři Projektu CAD
- 11.05. Autodesk Inventor – základní kurz
- 11.05. AutoCAD Electrical – základní kurz
- 11.05. Autodesk Inventor – návrh plechových dílů a součástí (Sheet Metal Design)...
- 12.05. Trimble SketchUp – základní kurz
- 12.05. Školení pro metrology - Metrolog organizace
- 13.05. Autodesk Maya – úvod do 3D
- 14.05. AutoCAD – kurz pro středně pokročilé
- 14.05. Školení pro metrology - Příprava na metrologický audit
- 14.05. workshop Strukturální mechanika v programu COMSOL Multiphysics
- 18.05. AutoCAD a AutoCAD LT – základní kurz
Aktuální články
- Dell Pro 5 Micro: Copilot+ PC připojí až pět monitorů
- Odolná mobilita s tabletem G140 Copilot+ a technologií AMD
- Odborný seminář MCAE – 3D tisk pro výrobu
- PC Navigator 26 pro Windows přesnější i pro kamiony
- Uvnitř 1,2gigawattového AI datacentra v Abilene
- Jarní webináře ArcGIS
- Významná aktualizace ENCY Hyper
- Školní kola Robosoutěže pro ZŠ znají své vítěze
Evropské turné LabVIEW National Instruments |
| Pondělí, 17 Březen 2014 10:52 | |
|
Přehled praktických kurzů, kterých se můžete zúčastnit v rámci seminářů
Program semináře v Plzni, Ostravě a Pardubicích Program semináře v Praze a Brně (dopolední a odpolední programy jsou identické) 12:30 – 13:00 Registrace účastníků National Instruments Eastern Europe spouští vlastní YouTube kanál Případné dotazy směřujte na telefon 800 267 267 nebo e-mail: ni.czech@ni.com. Přehled míst konání a linky pro registraci najdete na tomto odkazu.
Mohlo by vás zajímat:
|











Společnost National Instruments (Czech Republic) zve k účasti na některém ze svých LabVIEW seminářů, které se konají napříč Českou republikou v rámci evropského turné LabVIEW v týdnu od 24. do 28. března 2014. V průběhu bezplatného semináře objevíte grafické vývojové prostředí NI LabVIEW, vytvoříte svou první aplikaci v LabVIEW a dozvíte se o základních programových architekturách pro měřicí a řídicí systémy. V současnosti je pomocí LabVIEW možné programovat systémy reálného času, využívat programovatelná hradlová pole (FPGA) pro rychlé zpracování signálů a řízení s možností nasazení na různých cílových platformách a zařízeních – od vestavných kontrolérů až po měřicí stanice čítající několik stovek kanálů.
