Nová sonda pro bezkontaktní 3D skenování od Renishaw

Tags: 3D skenování | Bezkontaktní | DMIS | Kontroly | Měření | Renishaw | RFP | Sondy | Strojírenství

Spo­leč­nost Re­nishaw uvá­dí na trh no­vou son­du RFP frin­ge pro­be ur­če­nou pro po­u­ži­tí s 5osým mě­ři­cím sys­té­mem REVO pro sou­řad­ni­co­vé mě­ři­cí stro­je (CMM). Sonda RFP pro bez­kon­takt­ní 3D ske­no­vá­ní tak zvy­šu­je vý­kon­nost a ka­pa­ci­tu ce­lé­ho mě­ři­cí­ho mul­ti­sen­zo­ro­vé­ho sys­té­mu se za­mě­ře­ním na vel­mi přes­né sní­má­ní vol­ných ploch a ná­sled­né zpra­co­vá­ní vy­so­ké­ho po­čtu mě­ře­ných bo­dů na­pří­klad for­mou tak zva­né tep­lot­ní mapy (heat map). Sys­tém REVO tak nyní na­bí­zí ještě širší mož­nos­ti uplat­ně­ní ve vět­ši­ně prů­mys­lo­vých apli­ka­cí ne­jen díky je­di­neč­né­mu pě­ti­o­sé­mu po­hy­bu a kon­ti­nu­ál­ní­mu po­lo­ho­vá­ní, ale i všem pě­ti růz­no­ro­dým son­dám, kte­ré je mož­no vy­u­žít bě­hem au­to­ma­tic­ké­ho mě­ře­ní je­di­né­ho dí­lu.

Všech­ny sondy sys­té­mu REVO lze au­to­ma­tic­ky vyměňovat. Jde o sondy pro kon­takt­ní ske­no­vá­ní, do­te­ko­vé spí­ná­ní, kon­t­ro­lu drs­nos­ti po­vrchu, sondu pro bez­kon­takt­ní 3D ske­no­vá­ní a op­tic­kou sondu. Všech­ny se po­u­ží­va­jí na jed­nom spo­leč­ném sou­řad­ni­co­vém rámu a za­jiš­ťu­jí tak výběr op­ti­mál­ní­ho ná­stro­je k mě­ře­ní mnoha prvků na je­di­ném sou­řad­ni­co­vém mě­ři­cím stro­ji (CMM).
Sonda RFP pro­mí­tá vzor prouž­ků na po­vrch dílce a ka­me­ra sondy snímá od­chyl­ku ve vzoru prouž­ků, aby bylo možné vy­tvo­řit mrač­no bodů dat 3D po­vrchu. Mrač­no dat je ná­sled­ně vy­hod­no­ce­no 3D me­t­ro­lo­gic­kým soft­warem, který po­skyt­ne vý­sled­ky kon­t­ro­ly a tak zva­nou tep­lot­ní mapu (heat map) dílu. Bez­kon­takt­ní kon­t­ro­la struk­tu­ro­va­ným svět­lem po­mo­cí RFP na­bí­zí zřej­mé vý­ho­dy opro­ti tra­dič­ním me­to­dám do­te­ko­vé­ho sní­má­ní pro li­bo­vol­né po­vrchy a slo­ži­té ge­o­me­t­ric­ké tvary, jako jsou dílce vy­rá­bě­né adi­tiv­ní vý­ro­bou, pro­fi­ly lo­pa­tek a lo­pat­ko­vá kola, spa­lo­va­cí ko­mo­ry hlavy au­to­mo­bi­lo­vé­ho válce a jemné po­vrchy ne­vhod­né pro do­te­ko­vé mě­ře­ní.
Na roz­díl od ji­ných bez­kon­takt­ních sys­té­mů kon­t­ro­ly struk­tu­ro­va­ným svět­lem sonda RFP frin­ge probe ne­vy­ža­du­je re­fe­renč­ní znač­ky pro spo­je­ní dat z růz­ných ob­las­tí, pro­to­že to sys­tém REVO pro­vá­dí au­to­ma­tic­ky. Po­vla­ko­vá­ní dílce mat­nou lát­kou rov­něž není nutné díky au­to­ma­tic­ké kom­pen­za­ci ex­po­zi­ce růz­ných barev, tex­tur a od­ra­zi­vos­ti po­vrchu, což za­jiš­ťu­je op­ti­mál­ní vý­sled­ky dat.

Dva nové soft­wa­ro­vé ná­stro­je pro plá­no­vá­ní kon­t­ro­ly a di­gi­ta­li­za­ci
Plá­no­vač kon­t­ro­ly RFP je ná­stroj pro plá­no­vá­ní dráhy a ge­ne­ro­vá­ní DMIS pro­gra­mů sou­čás­tí z CAD, za­tím­co di­gi­ta­li­zač­ní apli­ka­ce RFP pro­ve­de uži­va­te­le kolem dílců bez mo­de­lů a ke shro­maž­ďo­vá­ní dat do­chá­zí v rámci pro­ce­su re­verz­ní­ho in­že­nýr­ství.
Sonda RFP je au­to­ma­tic­ky a opa­ko­va­ně za­mě­ni­tel­ná za všech­ny ostat­ní mož­nos­ti sond do­stup­ných pro sys­tém REVO, takže data z kaž­dé­ho sní­ma­če sdí­le­jí spo­leč­nou nu­lo­vou re­fe­ren­ci. Tato fle­xi­bi­li­ta zna­me­ná, že ke kon­t­ro­le ši­ro­ké škály prvků lze vy­brat op­ti­mál­ní ná­stroj, a to vše na jedné plat­for­mě sou­řad­ni­co­vé­ho mě­ři­cí­ho stro­je (CMM), která je ří­ze­na roz­hra­ním kom­pa­ti­bil­ním s I++ a me­t­ro­lo­gic­kým soft­warem MODUS spo­leč­nos­ti Re­nishaw.
Od 7. do 11. října budou mít ná­vštěv­ní­ci Me­zi­ná­rod­ní­ho stro­jí­ren­ské­ho ve­letr­hu 2019 v Brně mož­nost si nový sys­tém RFP pro­hléd­nout ve stán­ku spo­leč­nos­ti Re­nishaw v hale P.