ZEISS představuje Xradia 630 Versa XRM

Tags: 630 | Hardware | Mikroskop | Rentgen | Versa | Výzkum | Xradia | ZEISS

Po­sled­ní úno­ro­vý den před­sta­vil ZEISS rent­ge­no­vý mi­k­ro­skop ZEISS Xra­dia 630 Versa (XRM) pro aka­de­mic­ký a prů­mys­lo­vý vý­zkum. Nej­no­věj­ší pří­růs­tek do ro­di­ny ZEISS Xra­dia Versa pře­ko­ná­vá vý­kon­nost­ní ba­ri­é­ry roz­li­še­ní, při­ná­ší in­tu­i­tiv­ní uži­va­tel­ské pro­stře­dí a urych­lu­je pro­duk­ti­vi­tu pro všech­ny díky snad­ným, ří­ze­ným pra­cov­ním po­stu­pům a vyšší pro­pust­nos­ti.

Díky ná­stro­ji ZEISS Advan­ced Re­con­structi­on Tool­box (ART) 3.0 vy­u­ží­vá tato plat­for­ma pro re­kon­struk­ci také umě­lou in­te­li­gen­ci, která mění pra­vi­dla hry.
Kom­bi­na­ce těch­to schop­nos­tí umožňuje stu­do­vat bez­pre­ce­dent­ní škálu vzor­ků v ob­las­ti ma­te­ri­á­lo­vé vědy, vý­zku­mu ba­te­rií, po­kro­či­lé elek­tro­ni­ky, věd o živé pří­ro­dě a mnoha dal­ších, při­čemž vy­ho­vu­je jak za­čí­na­jí­cím, tak i nej­zku­še­něj­ším uži­va­te­lům.

Vysoký výkon rozlišení s RaaD 2.0

ZEISS Xra­dia 630 Versa před­sta­vu­je vyšší ener­ge­tic­ké mož­nos­ti a nový ob­jek­tiv 40X Prime (40X-P). Sys­témy ZEISS Xra­dia Versa, známé svou schop­nos­tí do­sáh­nout roz­li­še­ní na dálku (RaaD), umožňují ši­ro­kou škálu typů a ve­li­kos­tí vzor­ků v dlou­hém roz­sa­hu dél­ko­vých mě­ří­tek při vy­so­kém roz­li­še­ní. Sys­tém 40X-P do­sa­hu­je bez­kon­ku­renč­ní­ho vý­ko­nu roz­li­še­ní 450–500 nm v celém roz­sa­hu ener­gií od 30 kV do 160 kV, čímž de­fi­nu­je RaaD 2.0 a ode­my­ká vý­zkum­ní­kům zcela nové mož­nos­ti vy­u­ži­tí.

Uživatelské prostředí se vyvíjí s ohledem na rozšířenou přístupnost

Nové rent­ge­no­vé zob­ra­zo­vá­ní může být slo­ži­té, a proto vý­zkum­ní­ci ZEISS XRM stu­do­va­li zvyky uži­va­te­lů, za­bý­va­li se je­jich pro­blémy a u mo­de­lu ZEISS Xra­dia 630 Versa po­u­ži­li prin­ci­py ná­vr­hu za­mě­ře­né­ho na člo­vě­ka. Nyní může být i ten nej­no­věj­ší uži­va­tel oka­mži­tě pro­duk­tiv­ní. Soft­ware NavX pro­vá­dí uži­va­te­le au­to­ma­ti­zo­va­ný­mi pra­cov­ní­mi po­stu­py po­mo­cí in­te­li­gent­ních sys­té­mo­vých po­znat­ků a po­sky­tu­je vý­sled­ky ex­pe­ri­men­tů snad­ně­ji a efek­tiv­ně­ji a zá­ro­veň umožňuje zku­še­ným uži­va­te­lům pro­zkou­mat plnou vše­stran­nost pří­stro­je ZEISS Xra­dia 630 Versa.

NavX File Transfer Uti­li­ty (FTU) navíc pře­bí­rá data, která jsou vy­tvá­ře­na mi­k­ro­sko­pem, a au­to­ma­tic­ky je pře­ná­ší na jiná místa, takže uži­va­te­lé k nim mají pří­stup tam, kde je po­tře­bu­jí, kdy je po­tře­bu­jí.

Umělá inteligence, která mění pravidla hry

Se sou­čas­ným uve­de­ním ZEISS Advan­ced Re­con­structi­on Tool­bo­xu (ART) 3.0 na­bí­zí ZEISS ba­lí­ček AI Su­per­char­ger se zcela novým mo­du­lem ZEISS De­e­pScout a ZEISS De­e­pRe­con Pro pro všech­ny sys­témy ZEISS Xra­dia Versa. ZEISS De­e­pScout vy­u­ží­vá sady 3D mi­k­ro­sko­pic­kých dat s vy­so­kým roz­li­še­ním jako tré­nin­ko­vá data pro sady dat s niž­ším roz­li­še­ním a vět­ším zor­ným polem a po­mo­cí na­tré­no­va­né­ho mo­de­lu zvy­šu­je objem dat, což před­sta­vu­je efek­tiv­ní zvý­še­ní pro­pust­nos­ti na sto­ná­so­bek toho, čeho lze do­sáh­nout velmi vy­so­kým pro­sto­ro­vým roz­li­še­ním při ekvi­va­lent­ním ob­je­mu. ZEISS De­e­pRe­con Pro po­sky­tu­je vy­so­kou pro­pust­nost a vý­ho­dy v ob­las­ti kva­li­ty ob­ra­zu u růz­ných typů vzor­ků.
Tato schop­nost je k dis­po­zi­ci pro plat­for­mu ZEISS Xra­dia 630 Versa, která po­sky­tu­je ma­xi­mál­ní in­te­gra­ci a výkon pro bez­pro­blé­mo­vé do­sa­že­ní roz­li­še­ní ve vel­kých zor­ných po­lích (FOV) s vy­so­kou pro­pust­nos­tí.

Produktová stránka ZEISS Xradia 630 Versa: www.zeiss.com/630-versa.