Partneři Projektu CAD
| Po | Út | St | Čt | Pá | So | Ne |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | ||
| 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 |
| 13 | 14 | 15 | 16 | 17 | 18 | 19 |
| 20 | 21 | 22 | 23 | 24 | 25 | 26 |
| 27 | 28 | 29 | 30 |
- 15.04. Školení pro metrology - Měření drsnosti podle nových norem
- 16.04. workshop Strukturální mechanika v programu COMSOL Multiphysics
- 17.04. Webinář: DELMIA Augmented Experience
- 20.04. Trimble SketchUp – základní kurz
- 21.04. Blender – úvod do 3D
- 21.04. Kurz: GD&T a výkresová dokumentace
- 22.04. AutoCAD a AutoCAD LT – základní kurz
- 24.04. Autodesk Maya – pokročilé techniky modelování
- 27.04. Autodesk Maya – úvod do 3D
- 28.04. Autodesk Inventor – kurz iLogic
Aktuální články
- Mapy jsou pro každého 2026
- Nové vlajkové modely monitorů BenQ pro práci s Macy
- Epson uvádí řadu špičkových 6osých robotů CX-A
- Nominace na ocenění MAPA ROKU 2025 vyhlášeny
- Firmy se bojí zaspat, robotizaci si pořizují s předstihem
- Poslední volná místa na Designcenter NX User Event
- Prezentujeme studentské projekty pomocí virtuální reality
- Zákaznické dny TAJMAC-ZPS 2026
Hexagon Metrology uvedl WLS qFLASH pro měření bílým světlem |
| Středa, 15 Leden 2014 10:40 | |
|
WLS qFLASH je uložen v pevném uhlíkovém plášti s optickými vlákny a obsahuje výkonné modré LED světlo o vysoké energii a tři kamery pro triangulaci. Poradí si i se stíny, jež umí odfiltrovat. Přístroj je odolný proti vibracím, okolnímu kancelářskému světlu i změnám teplot. Stereoskopický systém qFLASH měří povrch, hrany a uzavřené prvky. K výrobku je nutné mít příslušný měřicí software CoreView ve verzi 7.0.
Mohlo by vás zajímat:
|









Společnost Hexagon Metrology vydala WLS qFLASH, kompaktní řešení na bázi bílého světla (white light solution – WLS), jež využívá nejmodernější technologii modrého světla pro průmyslová měření. WLS qFLASH je bezkontaktní, stereoskopický systém pro rychlá 3D měření třeba ve skladech nebo obchodech. Toto přenosné řešení (do ruky nebo s pohyblivým stojanem) vytváří zprávy a digitalizuje data získaná na místě pro další analýzu nebo přímé CAD srovnání. Využít se dá v malých nebo stísněných prostorech a je ideální pro měření leteckých i kosmických komponent, plastických částí interiérů automobilů, hliníkových a železných odlitků, středně velkých železných součástí, forem nebo matric.
